7月8日-10日，中國機器視覺展在上海盛大舉行，凌云光攜多款創(chuàng)新展品精彩亮相，聚焦AI+Vision為工業(yè)制造注入新質(zhì)生產(chǎn)力。

BeamMaster M² 光束質(zhì)量分析儀

BeamMaster M²是一種用于測量和評估激光光束質(zhì)量的儀器，通過測量M²質(zhì)量因子等參數(shù)來表征激光光束的質(zhì)量，一體化設計精致小巧，配置高精度電動導軌及高分辨率相機捕捉激光光斑的圖像，通過圖像處理軟件分析光斑的形狀、質(zhì)心、有效直徑、光束發(fā)散角、束腰直徑、瑞利長度、M²質(zhì)量因子等參數(shù)，實現(xiàn)快速一鍵式測量。廣泛應用于光學、激光技術、光纖通信、材料加工等領域，精確控制和優(yōu)化激光光束的質(zhì)量。

高速真彩色線掃相機

SF6300系列萬兆網(wǎng)線掃相機，使用最新多線TDI技術芯片，輸出高靈敏度圖像。相機分辨率8K/16K，支持黑白/彩色，最高行頻可達200KHz，支持標準GenICam協(xié)議。設計多種應用專屬ISP預處理功能，如分時頻閃、多光場控制、空間校正、色彩矯正等算法功能。適用于鋰電、光伏、PCB、印刷、半導體等高精端工業(yè)檢測場景。

短波紅外顯微自動對焦系統(tǒng)

紅外顯微自動對焦系統(tǒng)是由凌云光最新研發(fā)的2k分辨率紅外線掃相機搭配自動對焦系統(tǒng)。2K分辨率紅外短波線掃相機，對于硅基產(chǎn)品、膜材產(chǎn)品具備較好穿透能力，特別適合半導體等行業(yè)產(chǎn)品內(nèi)部特征識別及缺陷檢測。自動對焦系統(tǒng)重復定位精度可達0.15μm，模塊化設計，可針對不同產(chǎn)品的精度、特征等需求定制方案。廣泛適用于半導體顯微、半導體內(nèi)部缺陷檢測、FPD線路檢測等高精度需求場景。

電池片PL檢測組件

SR-PD系列PL檢測模組為高功率激光、相機、鏡頭一體機?；诠庵掳l(fā)光原理，無接觸檢測方案，針對光伏電池片中的隱裂、霧狀、發(fā)黑、吸盤印、石墨舟印、同心圓、皮帶印、臟污等缺陷檢測，同時不會造成二次隱裂缺陷，大幅度提升產(chǎn)線良率，減少不良片流入后段工序?qū)е碌奈锪侠速M、產(chǎn)線停機。
此外現(xiàn)場還展出了16KTDI高速背照式線掃相機、高性能棱鏡真彩色線掃相機、高性能板級面陣相機、應對惡劣環(huán)境面陣相機、邊緣端智能處理器、紅外、線掃全系列相機等創(chuàng)新產(chǎn)品及應用吸引了眾多觀眾互動，沉浸式體驗產(chǎn)品魅力。
未來，凌云光將以”AI+VIsion”技術為引擎，持續(xù)在機器視覺領域不斷推陳出新，為行業(yè)客戶提供創(chuàng)新產(chǎn)品與服務，助力智能制造從感知互聯(lián)走向萬物智能，推動行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。